스마트카드 IC 칩 시험 및 취약성 분석 기술 관련 연구협력 및 정보교류키로
노병규 한국정보보호진흥원 보안성평가단장(오른쪽)은 25일 대전시 유성구 나노종합팹센터(NNFC)에서 이희철 나노종합팹센터(NNFC) 소장과 스마트카드 IC 칩 시험?취약성 분석 기술 관련 연구협력 및 정보교류 등에 대한 포괄적인 협약을 체결했다.
이번 협약을 통해 양 기관은 스마트카드 IC칩 시험 및 취약성 에 필요한 원천기술을 공동으로 확보해 나갈 수 있는 협력 모델을 마련했다. KISA는 소프트웨어 평가역량을 스마트카드 IC칩을 포함한 하드웨어로 확대할 수 기반을 확보하게 되고, NNFC은 나노기술이 요구되는 IC칩 구조 분석 기술을 스마트카드 IC칩에 확대 적용하기 위한 연구를 수행하게 된다.
주요 협력 분야는 △스마트카드 IC칩 기술 관련 정보 교환, △스마트카드 IC칩 시험 및 취약성 분야의 연구 협력, △기타 하드웨어 시험평가 관련 연구 협력 부분이다.
이번 협약으로 양 기관은 개인정보보호의 중요성과 함께 수요가 커지고 있는 스마트카드 IC칩에 대한 시험 및 취약성 분석 기술을 확보할 수 있는 계기를 마련하게 되었고, 이를 토대로 점증적으로 국외에 의존하고 있는 스마트카드 IC칩 평가기술의 자립도를 높이는데도 크게 기여할 것으로 기대한다.
김정은 기자
jekim@itdaily.kr